首頁    角度衍射測量    KXR-4100系列雙轉角晶片測角機
                                    4500
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                                    KXR-4100系列雙轉角晶片測角機

                                    用于雙轉角石英晶片的角度測量。

                                    主要特點

                                     

                                    1. 采用低功率X射線源實現雙轉角晶片角度的精確測量。

                                    2. 可根據用戶指定的轉角范圍進行產品定制。

                                    3. 可根據用戶指定的晶片規格提供自動分類方案。

                                     

                                    統計功能

                                     

                                    —動態中心值指示

                                    —動態標準偏差值指示

                                    —測量數據列表顯示

                                    —模擬分選統計

                                     

                                    測量模式

                                     

                                    放置一個晶片,自動整理,自動掃描測量。


                                    技術參數

                                     

                                    KXR-4100

                                    Φ:18°30′0″- 26°00′0″

                                    θ:33°15′0″- 34°30′0″

                                    KXR-4102

                                    Φ:0°0′0″- 8°30′0″

                                    θ:34°15′0″- 35°45′0″

                                    外形尺寸(長寬高)

                                    725*715*1450mm

                                    重量

                                    198kg

                                    屏幕

                                    8英寸觸控屏

                                    輸入電源

                                    220V±10%,50-60Hz,0.65A

                                    輸入氣源

                                    0.5MPa,20L/min潔凈氣源

                                    衍射方式

                                    二級衍射 

                                    光路調整方式

                                    可控光軌調整裝置

                                    操作方式

                                    人工置片,自動整理±X方向辨識測量和分類

                                    靜態重復性測試標準偏差

                                    約3″(10次,不同角度晶片會有差異)

                                    可測量晶片規格

                                    X向:12-40mm,Z向:12-40mm

                                    數據呈現

                                    實時提供每片數據;數據以統計表  形式顯示在觸控屏上

                                    數據輸出

                                    提供以太網傳輸接口、SD卡 

                                     

                                     

                                     

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